发明名称 |
Superjunction-Halbleiterbauteil sowie Verfahren zu seiner Herstellung |
摘要 |
Ein Verfahren zur Herstellung eines Superjunction-Halbleiterbauteils umfaßt die Schritte der Ausbildung von mit Abstand voneinander angeordneten parallelen Gräben in einer Silizium-Halbleiterscheibe eines ersten Leitungstyps, wobei sich jeder der Gräben senkrecht zur oberen Oberfläche der Silizium-Halbleiterscheibe erstreckt und jeder der Gräben annähernd die gleiche Tiefe und den gleichen Querschnitt aufweist, des Lenkens eines Implantationsstrahls einer Spezies, die einen zweiten Leitungstyp bildet, in Richtung auf die Oberfläche der Silizium-Halbleiterscheibe und unter einem Winkel zu den Achsen jedes der Gräben, wobei der Winkel ausreichend klein ist, damit die volle Länge der Innenoberfläche jeder der Zellen implantierte Ionen von der Implantationsquelle empfängt, und des Drehens der Halbleiterscheibe, um die volle Oberfläche des Inneren jedes der Gräben mit dem Implantationsstrahl zu beaufschlagen.
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申请公布号 |
DE10123616(A1) |
申请公布日期 |
2002.01.24 |
申请号 |
DE20011023616 |
申请日期 |
2001.05.15 |
申请人 |
INTERNATIONAL RECTIFIER CORP., EL SEGUNDO |
发明人 |
REN, LIPING;SRIDEVAN, SRIKANT |
分类号 |
H01L21/265;H01L21/336;H01L21/762;H01L29/06;H01L29/78;(IPC1-7):H01L29/06 |
主分类号 |
H01L21/265 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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