| 摘要 |
장치 원격 위치에서의 전자계 강도를 규제치 이하로 억제하기 위해서, 장치 원격 위치에서의 전자계를 발생시키는 주요인이 되는 (전자 방해파)의 발생원을 고정밀도로 또한 고속도로 탐사하여 특정할 수 있도록 한 전자파 발생원 탐사 장치 및 그 방법 및 전자파 발생원 해석 시스템 및 그 방법을 제공하는 데 있다. 본 발명은 피측정 대상(110)의 근방의 자계를 적어도 두개 이상 설치한 프로브 세트(101, 102)로 측정하고, 이 두개의 프로브의 위상차를 이용한 하나의 함수를 포함하는 간단한 계산으로 전자파 발생원의 위치를 탐사하고, 상기 위치 정보와 측정 자계의 크기를 포함시킨 연립 방정식을 푸는 것으로, 피측정 대상 상의 전류 분포를 구하고, 상기 전류 분포로부터 장치 원격 위치에서의 전자계를 계산에 의해 구하는 것으로, 장치 원격 위치에서의 전자계를 발생시키는 주요인이 되는 발생원을 특정하는 것을 특징으로 한다. |
