| 主权项 |
1.一种测试治具,用于设置测试电路模组,以测试电子元件,上述测试治具包括:一第一夹持构件,设置于上述测试电路模组,且具有一主夹持端部;一第二夹持构件,设置于上述测试电路模组,且具有一贯穿孔;一贯穿杆构件,于一端设有一从夹持端部,且以可移动方式设置于上述贯穿孔,用以使上述主夹持端部与上述从夹持端部接触、分离,而夹持上述电子元件;一弹性构件,设置于上述测试电路模组与上述贯穿杆构件,用以持续推压上述第一滑动杆件朝向上述主夹持端部;以及一弹性调整构件,设置于上述贯穿杆构件,用以调整上述弹性构件之弹性。2.如申请范围第1项所述之测试治具,其中更设有一基座,上述基座具有一放置槽,用以放置上述电子元件。3.如申请范围第2项所述之测试治具,其中上述电路模组具有一支承架,且上述支承架具有一圆孔,使得上述贯穿杆构件穿过上述圆孔,并以上述支承架作为支承。4.如申请范围第3项所述之测试治具,其中上述弹性构件为一线圈弹簧。5.如申请范围第4项所述之测试治具,其中上述贯穿杆构件系由一第一结合杆构件与一第二结合杆构件活动地结合在一起,且上述第二结合杆构件之另一端设有上述从夹持端部。6.如申请范围第5项所述之测试治具,其中上述弹性调整构件为一锁紧螺帽,且与上述线圈弹簧一同设置于上述第一结合杆件,用以调整上述线圈弹簧之弹性。7.如申请范围第6项所述之测试治具,其中上述第一夹持构件具有一滑动杆构件和一导孔,且上述滑动杆构件之一端设有上述主夹持端部,并且以可移动方式设置于上述导孔。8.如申请范围第7项所述之测试治具,其中上述第一夹持构件具有一第一夹距调整构件,且上述第二结合杆构件具有一第二夹距调整构件,上述第一夹距调整构件用以固定与调整上述滑动杆构件,并与上述第二夹距调整构件用以调整或维持上述主夹持端部与上述从夹持端部间之夹距。图式简单说明:第一图系显示习知测试治具的立体图;以及第二图系显示本创作之测试治具的立体图。 |
