发明名称 静态随机存取记忆体及使用具有与闸极电连接的通道区域之金属氧化物半导体(MOS)电晶体之半导体装置
摘要 静态随机存取记忆体(SRAM)中,记忆格各由四个N型金属氧化物半导体(NMOS)电晶体,及两个P型金属氧化物半导体(PMOS)电晶体25及26构成。该四个NMOS电晶体各由 DTMOS所构成,其中其通道区域与间极电一连接。各NMOS电晶体中,导通阶段之门槛电压Vth比截止阶段低。截止阶段之门槛电压Vth与一般NMOS之门槛电压相等,其中通道区域不与闸极电连接。SRAM之读写电路亦包括由DTMOS形成之MOS电晶体,其中通道区域与闸极电连接。
申请公布号 TW472261 申请公布日期 2002.01.11
申请号 TW088116850 申请日期 1999.09.30
申请人 夏普股份有限公司 发明人 佐藤雄一
分类号 G11C11/417;G11C16/06 主分类号 G11C11/417
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种静态随机存取记忆体,包括DTMOS电晶体,该 DTMOS电晶体各包括一形成通道之半导体区域以及 一闸极,两者互相电连接。2.如申请专利范围第1项 之静态随机存取记忆体,其中该静态随机存取记忆 体之记忆格各包括: 具有形成通道半导体区域之N型DTMOS电晶体及一闸 极,两者互相电连接;以及 具有形成通道半导体区域之P型MOS电晶体,与电源 电连接。3.如申请专利范围第2项之静态随机存取 记忆体,其中该P型MOS电晶体具有一闸极氧化物膜, 其厚度大于该N型DTMOS半导体电晶体。4.如申请专 利范围第2项之静态随机存取记忆体,其中形成该P 型MOS电晶体形成通道半导体区域之N型井,比形成N 型DTMOS电晶体形成通道半导体区域之P型井深,而这 些形成通道之半导体区域互相电绝缘。5.如申请 专利范围第1项之静态随机存取记忆体,包括写入 电路装置,包括: 具有一形成通道半导体区域与一闸极互相电连接 之DTMOS电晶体。6.如申请专利范围第5项之静态随 机存取记忆体,其中该写入电路装置之DTMOS电晶体 包括N型DTMOS电晶体,用以使一位元线及一倒转位元 线分别具有高位准之电位。7.如申请专利范围第1 项之静态随机存取记忆体,包括读取电路装置,其 包括各具有形成通道半导体区域与一闸极互相电 连接之DTMOS电晶体。8.如申请专利范围第1项之静 态随机存取记忆体,其中该静态随机存取记忆体之 记忆格包括: 具有形成通道半导体区域与闸极互相电连接之N型 DTMOS电晶体;以及 一电阻器。9.一种半导体装置,包括: 用以执行内部处理之第一MOS电晶体,各具有以第一 井形成之形成通道半导体区域;以及 用以来往一外部装置执行直接信号传输及接收之 第二MOS电晶体,各具有以比第一井深之第二井形成 之形成通道半导体区域。图式简单说明: 第一图为构成本发明SRAM之部分SRAM元件之电路图; 第二图显示以如第一图所示之SRAM元件构成之SRAM 元件阵列,与一写入电路及一读取电路间之连接图 ; 第三图为如第一图所示SRAM元件之部分剖面图; 第四图为修改第一图SRAM元件之部分剖面图; 第五图为不同于第一图之SRAM的电路图; 第六图显示以如第一图或第五图所示之SRAM元件构 成之SRAM元件阵列,与一写入电路及一读取电路间 之连接图; 第七图说明应用如第一图或第五图所示SRAM元件之 一半导体装置之配置图; 第八图为第七图中一界面部分之部分剖面图; 第九图为习用SRAM元件之电路图;以及 第十图说明应用习用SRAM元件之SRAM的配置图。
地址 日本