| 发明名称 |
OVERVOLTAGE DETECTION CIRCUIT FOR TEST MODE SELECTION |
| 摘要 |
<p>저항 분배기를 입력 스테이지로서 사용하는 과전압 회로가 설명되었다. 상기 저항 분배기는 트랜지스터 임계 전압(Vt)에 대한 과전압 트립점의 의존성을 감소시킨다. 상기 과전압 트립점의 안정도는 다이오드 접속된 트랜지스터를 입력 스테이지로서 사용하는 전형적인 과전압을 통해 크게 증가된다. 상기 과전압 회로는 메모리 장치를 포함한 임의의 집적 회로에 포함될 수 있다.</p> |
| 申请公布号 |
KR100319029(B1) |
申请公布日期 |
2002.01.05 |
| 申请号 |
KR19997003466 |
申请日期 |
1999.04.20 |
| 申请人 |
null, null |
发明人 |
셔,조셉,씨.;머릿트,토드,에이. |
| 分类号 |
G11C11/401;G01R31/28;G01R31/317;G11C29/00;G11C29/14;G11C29/46 |
主分类号 |
G11C11/401 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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