| 主权项 |
1.一种测试治具,适用于一电子元件之测试上,包括 : 一治具本体,具有两测试槽,可用以收纳该电子元 件; 两对接触片,以可开闭的方式设置于该治具本体上 ,且位于该测试槽中而可与该电子元件接触;以及 两测试座,分别以可移动的方式设置于该治具本体 上,且分别具有可与该接触片以及该电子元件接触 的一金属片。2.如申请专利范围第1项所述的测试 治具,其中该治具本体在形成该测试槽的表面上, 更具有两沟槽,以方便该等测试座移动。3.如申请 专利范围第2项所述的测试治具,其中该等测试座 在与该等沟槽抵接的表面上,分别更具有一突点, 以可沿着该等沟槽移动。4.如申请专利范围第3项 所述的测试治具,其中该等测试座分别更包括: 一座体,设置于该治具本体上,且具有可供电子元 件放入的一开口;以及 一支撑脚,一端与该座体结合,另一端插入该测试 槽中。5.如申请专利范围第4项所述的测试治具,其 中该金属片之一部份位于该座体之开口中,另一部 份位于该支撑脚之两侧,藉此使放入该座体之电子 元件藉由该金属片将讯号传递至该接触片。图式 简单说明: 第一图a显示习知之测试治具,其中测试座未装于 治具本体; 第一图b显示习知之测试治具,其中测试座未装于 治具本体,且一电容插入测试槽中; 第一图c显示习知之测试治具,其中治具本体上装 有测试座,且一电阻放置于测试座中; 第一图d为习知测试座之立体图; 第二图a为本创作之测试治具之立体图,其中测试 座位于测试槽两侧; 第二图b为本创作之测试治具之立体图,其中测试 座位于中央; 第三图为测试座之立体图; 第四图a显示一电容在本创作测试治具上测试之状 态图;以及 第四图b显示一电阻在本创作测试治具上测试之状 态图。 |
