发明名称 | 制备光电探测器的方法 | ||
摘要 | 一种制备光电探测器的方法。采用特殊版图设计,宽引线铝覆部分场区,氯离子处理炉管,在有氢气氛的低温炉中退火,慢降温和磷吸杂工艺。经此方法制备的光电探测器反向击穿高,暗电流小,结电容小,响应速度快,光谱响应范围广,参数优异并稳定。可广泛应用于光电探测器的制备领域。 | ||
申请公布号 | CN1328348A | 申请公布日期 | 2001.12.26 |
申请号 | CN01123428.8 | 申请日期 | 2001.07.23 |
申请人 | 北京大学 | 发明人 | 张太平;宁宝俊;田大宇;张洁天;张录;倪学文;王玮;李静;马连荣;王兆江;袁坚;郭昭乔 |
分类号 | H01L31/18 | 主分类号 | H01L31/18 |
代理机构 | 北京华一君联专利事务所 | 代理人 | 余长江 |
主权项 | 1.一种制备光电探测器的方法,其步骤包括:1)设计光电探测器单元版图,2)生长氧化硅:升炉温到1000℃以上,通氧气2-10分钟;同时通入氧气和氮气不短于10分钟,生长氧化硅;在炉管水汽氧化2-3小时;然后干氧生长20-30分钟,然后通氮断氧,生长800纳米以上厚度的氧化硅;将炉管慢降温;取出硅片;3)背面扩磷:用胶保护硅片正面,腐蚀掉背面氧化层,然后背面扩磷:4)光刻有源区;5)浅结注入硼;6)退火;7)光刻引线孔;8)溅射铝引线,得到光电探测器芯片。 | ||
地址 | 100871北京市海淀区颐和园路5号 |