发明名称 制备光电探测器的方法
摘要 一种制备光电探测器的方法。采用特殊版图设计,宽引线铝覆部分场区,氯离子处理炉管,在有氢气氛的低温炉中退火,慢降温和磷吸杂工艺。经此方法制备的光电探测器反向击穿高,暗电流小,结电容小,响应速度快,光谱响应范围广,参数优异并稳定。可广泛应用于光电探测器的制备领域。
申请公布号 CN1328348A 申请公布日期 2001.12.26
申请号 CN01123428.8 申请日期 2001.07.23
申请人 北京大学 发明人 张太平;宁宝俊;田大宇;张洁天;张录;倪学文;王玮;李静;马连荣;王兆江;袁坚;郭昭乔
分类号 H01L31/18 主分类号 H01L31/18
代理机构 北京华一君联专利事务所 代理人 余长江
主权项 1.一种制备光电探测器的方法,其步骤包括:1)设计光电探测器单元版图,2)生长氧化硅:升炉温到1000℃以上,通氧气2-10分钟;同时通入氧气和氮气不短于10分钟,生长氧化硅;在炉管水汽氧化2-3小时;然后干氧生长20-30分钟,然后通氮断氧,生长800纳米以上厚度的氧化硅;将炉管慢降温;取出硅片;3)背面扩磷:用胶保护硅片正面,腐蚀掉背面氧化层,然后背面扩磷:4)光刻有源区;5)浅结注入硼;6)退火;7)光刻引线孔;8)溅射铝引线,得到光电探测器芯片。
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