发明名称 |
X-射线荧光元素分析器 |
摘要 |
通过应用低能X-射线辐射试样流并测量所发射的特征X-射线荧光来在线测量煤和矿石的组分的装置。该装置包括以特定几何结构安装的一个或多个硅检测器(10)和一个或多个X-射线发生器(20)。从采样系统中获得有代表性的试样流。应用犁形器具或流槽将试样输送到分析器中以便用于分析器的均匀探询区。从每个峰值的计数率的线性关系中得出校正曲线,从校正曲线中计算试样的元素分析(在周期表中的铝至银)。从函数f(在入射辐射反向散射的所测量的灰分中的主要元素)中确定煤的灰分。通过测量通过试样的微波束的衰减来测定湿度。 |
申请公布号 |
CN1328639A |
申请公布日期 |
2001.12.26 |
申请号 |
CN99812020.0 |
申请日期 |
1999.09.16 |
申请人 |
程序控制公司 |
发明人 |
梅尔文·J·劳里拉;克劳斯·C·巴奇曼;阿伯特·P·克莱恩 |
分类号 |
G01N23/223 |
主分类号 |
G01N23/223 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
李德山 |
主权项 |
1.一种对试样进行在线元素分析的装置,包括:接收试样的在线采样装置;至少一个X-射线源;以及用于从所说的试样中检测X-射线荧光并响应于所说的X-射线荧光产生信号的至少一个X-射线荧光检测器,其中所说的至少一个X-射线源和所说的至少一个X-射线荧光检测器都以这样的几何结构安装:使X-射线检测和灵敏度最大。 |
地址 |
美国特拉华 |