| 发明名称 | 光学测量装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于测量某装置(100)线性位移和/或角位移的测量装置(1)。借助于光学传感器单元(2)和固定在以可转动形式保持的盘(7)上并可在传感器单元(2)的光路中运动的榫形遮挡板(8),可产生信号,该信号的大小与线性位移和/或角位移的大小成正比。盘(7)则与装置(100)机械连接。 | ||
| 申请公布号 | CN1328635A | 申请公布日期 | 2001.12.26 |
| 申请号 | CN99812770.1 | 申请日期 | 1999.10.30 |
| 申请人 | 戴姆勒格蕾斯勒公司 | 发明人 | W·瓦尔蒂;H·J·韦德曼;A·加施 |
| 分类号 | G01D5/34 | 主分类号 | G01D5/34 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 赵辛 |
| 主权项 | 1.用于测量某装置(100)线性位移和/或角位移大小的测量装置，其特征在于，设有至少一个能产生信号的传感器单元(2)和部件(7，8，12)，所述信号的大小与线性位移和/或角位移的大小成正比。 | ||
| 地址 | 德国斯图加特 | ||