发明名称 制备锑化镓基半导体器件用的化学腐蚀液体系
摘要 本发明涉及制备锑化镓基半导体器件用的化学腐蚀液体系。包括盐酸系、氢氟酸系和酒石酸盐系三种。盐酸系腐蚀液为盐酸、酒石酸和双氧水;氢氟酸系腐蚀液为氢氟酸、酒石酸和双氧水;酒石酸盐系腐蚀液为酒石酸钾钠、盐酸、和双氧水。这三种腐蚀液不会破坏光刻胶掩膜,能应用于GaSb、AlGaAsSb、InGaAsSb等二元和四元系Ⅲ-Ⅴ族锑化合物的台面腐蚀,腐蚀速率可控,且小于1μm/min,与器件工艺兼容。
申请公布号 CN1328175A 申请公布日期 2001.12.26
申请号 CN01112872.0 申请日期 2001.05.11
申请人 中国科学院上海冶金研究所 发明人 李爱珍;林春;郑燕兰;简贵胄;张永刚
分类号 C23F1/16 主分类号 C23F1/16
代理机构 上海华东专利事务所 代理人 潘振甦
主权项 1.一种制备锑化镓基半导体器件用的化学腐蚀液体系,其特征在于它包括盐酸系、氢氟酸系和酒石酸盐系三种。
地址 200050上海市长宁区长宁路865号