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发明名称
摘要 Automatic test equipment for memory devices with means to optimise features of the test according to the test results generated by the equipment at an individual defect level.
申请公布号 JP2001527261(A) 申请公布日期 2001.12.25
申请号 JP20000506533 申请日期 1998.08.10
申请人 发明人
分类号 G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/3193;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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