| 主权项 |
1.一种于一晶片上之振荡器电路,用以估计该晶片 之效能,该电路至少包含: 只有一I/O点,用以连接至监视装置,用以接收一作 动信号,及用以反应于该作动信号,而输出一振荡 信号,该振荡信号具有一频率以指示该晶片之效能 位准。2.如申请专利范围第1项所述之振荡器电路, 其中上述之振荡器电路更包含机构,用以隔离开振 荡器电路与I/O点,用以维持一振荡频率无关于I/O点 上之负载。3.一种IC晶片测试系统,至少包含: 一IC晶片; 一振荡器电路于该IC晶片上,只具有一I/O节点;及 一监视电路,连接至该一I/O节点,用以作动振荡器 电路及用以接收来自振荡电路经由该一I/O节点之 振荡信号。4.如申请专利范围第3项所述之系统,更 包含一电路配置,用以维持该振荡器之内部操作频 率无关于该一I/O节点上为监视电路所感应之作用 。5.一种测试一IC晶片之方法,至少包含步骤: 提供一振荡器电路于IC晶片上; 连接一探棒至振荡器电路之单一接点,包含感应一 件动电压于该单一节点,用以作动振荡器电路及维 持于该探棒及单一接点间之接触;及 检测并量测只经由单一接触点之该作动振荡电路 之输出频率。图式简单说明: 第一图及第二图为先前技艺之振荡器电路。 第三图为本发明之振荡器电路。 第四图及第五图为本发明振荡器电路之另一实施 例。 第六图为来自本发明振荡器延迟级及其输出垫之 各种波形。 |
