发明名称 |
Herstellungsverfahren eines Halbleitersubstrats |
摘要 |
Ein Graben wird in einem Halbleitersubstrat durch eine Maske gebildet, welche sich aus einer Siliziumoxidschicht zusammensetzt, die auf den Halbleitersubstrat gebildet wird. Danach wird ein Randabschnitt eines Öffnungsabschnitts der Maske derart geätzt, dass eine Öffnungsbreite davon breiter als diejenige des Grabens wird. Danach wird eine innere Oberfläche des Grabens durch eine thermische Behandlung bei etwa 1000 DEG C in einer nicht oxidierenden oder einer nicht nitrierenden Atmosphäre unter einem niedrigen Druck geglättet. Danach wird der Graben mit einer Epitaxialschicht gefüllt. Danach wird die Epitaxialschicht poliert, wodurch ein Halbleitersubstrat zur Bildung einer Halbleiteranordnung erzielt wird.
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申请公布号 |
DE10127231(A1) |
申请公布日期 |
2001.12.20 |
申请号 |
DE20011027231 |
申请日期 |
2001.06.05 |
申请人 |
DENSO CORP., KARIYA |
发明人 |
URAKAMI, YASUSHI;YAMAUCHI, SHOICHI;SAKAKIBARA, TOSHIO;YAMAGUCHI, HITOSHI;TSUJI, NOBUHIRO |
分类号 |
H01L21/306;H01L21/761;H01L21/763;(IPC1-7):H01L21/308 |
主分类号 |
H01L21/306 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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