首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
Method and apparatus for die testing on wafer
摘要
Integrated circuit die on wafer are tested individually, without probing any of the die, using circuitry (TC1-8, BC1-8, LR1-8, RR1-8, PA1-PA4) provided on the wafer.
申请公布号
US2001052787(A1)
申请公布日期
2001.12.20
申请号
US20010835802
申请日期
2001.04.16
申请人
WHETSEL LEE D.
发明人
WHETSEL LEE D.
分类号
G01R31/26;G01R31/317;G01R31/3185;H01L23/58;(IPC1-7):G01R31/26
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
Anlage fuer die Erzeugung von Gleichstrom hoher Spannung mittels Kondensatoren veraenderbarer Kapazitaet
Anordnung zur Messung von Kapazitaeten
Pruefeinrichtung zur Untersuchung von Schleifscheiben bei stufenlos steigerbaren Umlaufgeschwindigkeiten
Sicherheitsventil, insbesondere fuer Dampfkessel
Zeichengeraet
Rasierhobel
Verfahren zum Herstellen von Kraenzen fuer Schleif- und Polierscheiben
Geraet zum Reinigen von Fleischhackbloecken u. dgl. fuer Grosskuechen und Metzgereibetriebe
Flatterschulzaufhaengung von Federn bei Land-, insbesondere Kraftfahrzeugen
Tieflade-Transportfahrzeug, insbesondere zur Behaelterbefoerderung
Haltevorrichtung fuer Kuechenmaschinen
Elastische Verbindung von Rohrstuecken, vorzugsweise Luttenverbindung fuer Grubenbetriebe
Zigaretten-, Zigarrenspitze oder Pfeifenmundstueck
Doppelvorschubwerk von Vollgattern
Glaserblechecken und Verfahren zu ihrer Herstellung
Anordnung zur Erzielung einer gleichmaessig ueber den Ankerumfang verteilten hohen Empfindlichkeit bei integrierenden Vergleichsgeraeten
Fassungskorb mit freitragender, einseitiger Befestigung fuer einschraubbare elektrische Geraete, wie Niederspannungssicherungen, Gluehlampen u. dgl.
Dichtung an Bremskolben fuer Luftdruckbremsen
Tiefbohrspuelung und Verfahren zu ihrer Behandlung
Einrichtung zum Pruefen tragbarer Uhren