发明名称 Topography parameters interpretation method for periodic surface structures on sample, involves detecting symmetry characteristics of periodic structures, based on spacing of diffraction orders
摘要
申请公布号 DE10027439(A1) 申请公布日期 2001.12.20
申请号 DE20001027439 申请日期 2000.05.29
申请人 TECHNISCHE UNIVERSITAET ILMENAU ABTEILUNG FORSCHUNGSFOERDERUNG UND TECHNOLOGIETRANSFER 发明人
分类号 G01B11/30;G01N21/47;(IPC1-7):G01B11/30 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人
主权项
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