首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 METHOD FOR MEASURING LOW RESISTANCE AT IN-CIRCUIT TESTER
摘要
申请公布号 KR20010111599(A) 申请公布日期 2001.12.19
申请号 KR20010002099 申请日期 2001.01.15
申请人 DAI YANG CO., LTD. 发明人 KOO, YEONG SUK
分类号 (IPC1-7):G01R27/08 主分类号 (IPC1-7):G01R27/08
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com