发明名称 扫描资讯载体之装置及方法
摘要 一种用以扫描一包含有置换装置(4,6,7)之资讯载体,该置换机构用以沿着一路径移动一扫描光点(5)而移动至该资讯载体(l)之轨道。该装置进一步包含位置资讯产生装置(15)用以产生一位置信号(Pl'),以指出沿着一路径和一轨道相关之扫描光点(5)之位置。该装置进一步包含速度资讯产生装置(22),以产生一速度信号(Vm)用以度量沿着该路径扫描光点(5)之速度。一锁定相位回路(22)产生一校正后之位置信号(Pl')锁定位置信号(Pl),该装置进一步具有用以评估根据位于校正后位置信号(P')扫描光点(5)位移之装置(25)。该位置资讯产生装置(15)产生一进一步位置信号(P2),其和位置信号(Pl)具有相位差。在一相对低速之扫描光点(5)下,该装置假设一第一作业模式,其中,该扫描光点之置换是由位置信号(Pl,P2)两者所导出,而在一相对高速之扫描光点下,该装置假设一第二作业模式,其中,置换是由位置信号(Pl)所导出。
申请公布号 TW468159 申请公布日期 2001.12.11
申请号 TW089109572 申请日期 2000.05.18
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 玛赛尔 瑞克;阿诺杜斯 杰洛恩 尼森
分类号 G11B21/08;G11B7/085;G11B7/095 主分类号 G11B21/08
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种扫描资讯载体(1)之装置,包含: 位移装置(6,7),用以沿着路径移动一扫描光点(5)行 进至该资讯载体(1)之轨道; 位置资讯产生装置(15),用以产生一位置信号(P1),该 信号系指出相对于一轨道之路径上之扫描光点(5) 之位置; 速度资讯产生装置(22),用以产生一速度信号(Vm),该 信号系沿着路径扫描光点(5)之速度之量测; 一锁定相位回路(22),用以产生一校正位置信号(P1') ,该信号锁定位置信号P1; 用以评估一根据位于该校正位置信号(P1')之扫描 光点(5)之位移之装置(25); 其特征在于: 该位置资讯产生装置(15)产生一进一步位置信号(P2 ),其和位置信号(P1)间具有相位差,该装置假设一第 一作业模式下之扫描光点(5)是处于一低速,其中, 扫描光点(5)之位移作业之第一节点是由位置信号( P1,P2)两者导出,并且一第二作业模式下之扫描光点 (5)是处于一相对高速,其中,第二作业模式之位移 是由位置信号(P1)导出。2.如申请专利范围第1项之 装置,其特征在于,用以评估位移之装置(25)是由具 有一用以接收一计数信号之输入(26)及用以接收一 计数方向信号之输入(27)之一向上/下计数器所形 成,并且该装置进一步包含第一切换装置(28)用以 在第一作业模式下,该计数信号是植基于位置信号 (P1),并且于第二作业模式下,该计数信号是植基于 校正位置信号(P1'),并且该装置进一步包含第二切 换装置(33)用以在第一作业模式下,该计数方向信 号(DIR')为两位置信号(P1,P2)之函数,以及于第二作 业模式下,该计数方向信号是和位置信号相独立。 3.如申请专利范围第2项之装置,其特征在于,于第 二作业模式下,该计数方向信号(DIR')具有一和在第 一作业模式下之计数方向信号(DIR)之値相同之数 値。4.如申请专利范围第1项之装置,其特征在于, 该锁定相位回路(22)假设一状态,该状态是依赖于 一预估速度(Vp),其为对沿着该路径之扫描光点(5) 之速度之预估数値之度量。5.如申请专利范围第1 项之装置,其特性为,该锁定相位回路(22)具有一相 位比较器(221)用以产生一错误信号,其为位于锁定 相位回路之一输入信号(P1)及一回馈信号(P1')间差 异之度量値,装置(223)用以产生一控制信号,该信号 系为对错误信号之低频元件之度量,以及用以产生 一具有频率之信号(Pl')之装置(222),该信号依赖于 控制信号,该速度资讯信号是自控制信号所产生。 6.一种操作一扫描一资讯载体(1)装置之方法,其中, 一扫描光点(5)是沿着一路径自该资讯载体(1)之一 轨道移动至另一轨道,该扫描光点(5)于该路径之第 一阶段时进行一加速移动,而于该路径之第二阶段 时进行一减速动作,该扫描光点(5)之沿着该路径连 续位移之移动期间,是由一第一及一第二位置信号 (P1,P2)所导出,并且,在该扫描光点之速度之预估値 已经超过一预设値之后,是自该第一位置信号(P1) 所产生,并且是和第二位置信号(P2)无关,之后,当速 度之预估数値(Vm)已经减少至小于一预设値(Vt)时, 该扫描光点(5)之位移是再一次由第一及第二位置 信号(P1,P2)所导出。图式简单说明: 第一图显示一依据本发明之装置之具体实施例; 第二图显示第一图中之装置之部份; 第三图显示第一图中之装置之更进一步之部份; 第四图显示出现于所显示装置内之信号波形。
地址 荷兰