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发明名称
APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING PDP ELECTRODE PATTERN OF NONCONTACT SCAN MODE USING NONCONTACT PROBE BY TIMER IC
摘要
申请公布号
KR20010106963(A)
申请公布日期
2001.12.07
申请号
KR20000028084
申请日期
2000.05.24
申请人
MICROINSPECTION, INC.
发明人
EUN, TAK
分类号
H01J9/42;(IPC1-7):H01J9/42
主分类号
H01J9/42
代理机构
代理人
主权项
地址
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