发明名称 Verfahren zur Bestimmung der Schichtdicke von Oberflächenschichten
摘要
申请公布号 DE19641815(C2) 申请公布日期 2001.12.06
申请号 DE19961041815 申请日期 1996.10.10
申请人 BUDEI, FRANK 发明人 BUDEI, FRANK
分类号 G01B5/06;G01N3/46;(IPC1-7):G01B11/06;G01B21/08;G01N3/42 主分类号 G01B5/06
代理机构 代理人
主权项
地址