晶片测试机的金手指引动装置

摘要

一种晶片测试机的金手指引动装置,包含有:至少二推板,以可旋摆的方式设置于晶片测试机上且分别位于该二排金手指的外缘;至少一推动组件,具有一座体,该座体两侧各向下延伸一臂部,设置于晶片测试机且位于该等推板的上方,可受驱动而上下滑移,于向下位移时即可推动该等推板向内侧旋摆而将该二排金手指推向晶片接脚;至少一驱动装置,设置于晶片测试机上且位于该推动组件的上方,用以驱动该座体上下位移。

主权项

1．一种晶片测试机的金手指引动装置，用以驱动晶片测试机上的两排金手指来接触待测晶片两侧的各接脚，透过接触通电来检测该待测晶片是否能正常运作，其特征在于，其中该引动装置包含有：至少二推板，以可旋摆的方式设置于晶片测试机上且分别位于该二排金手指的外缘，该二推板可受驱动而向该二排金手指旋摆；至少一推动组件，具有一座体，该座体两侧各向下延伸一臂部，该推动组件的座体是以可上下活动的方式设置于晶片测试机且位于该等推板的上方，可受驱动而上下滑移，于该座体向下位移时，该等臂部即随的向下位移而压抵于该等推板的外侧面，进而推动该等推板向内侧旋摆而将该二排金手指推向晶片接脚；至少一驱动装置，设置于晶片测试机上且位于该推动组件的上方，该驱动装置连接于该推动组件的座体，驱动该座体上下位移。