发明名称 METHOD FOR FORMING GATE ELECTRODE IN SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 <p>본 발명은 반도체 소자의 게이트 전극 형성 방법에 있어서, 게이트 전극을 형성하는 배리어 금속막과 금속막 사이에 실리콘 박막을 삽입함으로써 게이트 전극의 저항을 감소시켜서 게이트 전극의 전기적 특성을 향상시킬 수 있는 방법에 관한 것이다. 본 발명은 반도체 기판 상에 게이트 산화막과 도핑된 폴리 실리콘 막 및 배리어 금속막을 순차적으로 적층하는 단계와, 상기 배리어 금속막 상부에 게이트 전극의 저항을 감소시키기 위한 실리콘 박막 및 금속막을 증착하는 단계와, 하드 마스크를 이용하여 상기에서 형성된 게이트 구조를 소정의 형태로 패터닝하여 게이트 전극을 형성하는 단계를 포함한다.</p>
申请公布号 KR100315037(B1) 申请公布日期 2001.11.30
申请号 KR19990048662 申请日期 1999.11.04
申请人 null, null 发明人 이상무;이진홍
分类号 H01L21/283 主分类号 H01L21/283
代理机构 代理人
主权项
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