| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Untersuchen einer Leiterplatte an einem vorbestimmten Bereich der Leiterplatte mit einer Vorrichtung, die eine stationär angeordnete Kamera und eine Anzeigeeinrichtung aufweist. Die Leiterplatte ist frei beweglich im Abtastbereich der Kamera angeordnet. Gemäß der Erfindung wird ein von der Kamera erfasstes Bild der Leiterplatte, das Kamerabild, mit einem Leiterplattenbild in Deckung gebracht, wobei das Kamerabild und das Leiterplattenbild nach einem ersten Ausrichtvorgang zumindest einmal im gleichen Verhältnis vergrößert und erneut ausgerichtet werden. Hierdurch wird eine exaktere Deckung zwischen Kamerabild und dem Leiterplattenbild erzielt und der zu untersuchende vorbestimmte Bereich wird in dieser vergrößerten Darstellung markiert. Hierdurch kann ein Anwender des erfindungsgemäßen Verfahrens schnell den zu untersuchenden Bereich der Leiterplatte in der vergrößerten Darstellung auffinden und ihn entsprechend analysieren.</p> |
