| 发明名称 |
SCHICHTDICKENMESSUNG, DIE RÜCKSTREUUNG VON HOCHENERGISCHEN PHOTONEN VERWENDET |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
DE69523476(D1) |
申请公布日期 |
2001.11.29 |
| 申请号 |
DE19956023476 |
申请日期 |
1995.08.30 |
| 申请人 |
UNIVERSITY OF GUELPH, GUELPH |
发明人 |
MACKENZIE, K. |
| 分类号 |
B64D15/20;G01B15/02;(IPC1-7):G01B15/02 |
主分类号 |
B64D15/20 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
