首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 PROBE CARD FOR TESTING CHIP DEVICE OF WAFER
摘要
申请公布号 KR20010105437(A) 申请公布日期 2001.11.29
申请号 KR20000023893 申请日期 2000.05.04
申请人 MECCATECHS CO., LTD. 发明人 AHN, CHANG HO;AHN, SEONG GWON;AHN, YUN TAE;CHO, JONG GWAN
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com