| 发明名称 |
Mustersuchverfahren und Vorrichtung zur Positionierung einer Maske bezüglich eines Werkstücks |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE69707518(D1) |
申请公布日期 |
2001.11.29 |
| 申请号 |
DE19976007518 |
申请日期 |
1997.01.10 |
| 申请人 |
USHIODENKI K.K., TOKIO/TOKYO |
发明人 |
TANAKA, YONETA |
| 分类号 |
G01B11/00;G03F9/00;G06T1/00;G06T7/60;(IPC1-7):G03F9/00 |
主分类号 |
G01B11/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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