| 发明名称 |
METHOD FOR TESTING AN INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
EP0966743(B1) |
申请公布日期 |
2001.11.28 |
| 申请号 |
EP19980912269 |
申请日期 |
1998.02.17 |
| 申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
WEIGAND, ROLAND;RICHTER, DETLEV |
| 分类号 |
G11C29/12;G11C29/48;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/12 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
