Circuitry and methodology to test single bit failures of integrated circuit memory devices,申请号EP19960305856-传众专利搜索

发明名称	Circuitry and methodology to test single bit failures of integrated circuit memory devices
摘要
申请公布号	EP0760518(B1)	申请公布日期	2001.11.28
申请号	EP19960305856	申请日期	1996.08.09
申请人	STMICROELECTRONICS, INC.	发明人	MCCLURE, DAVID CHARLES;LYSINGER, MARK ALAN;SIGMUND, FRANK JOSEF;MICHLOWSKY, JOHN ANTHONY
分类号	G11C11/413;G11C29/00;G11C29/04;G11C29/14;G11C29/30;(IPC1-7):G11C29/00	主分类号	G11C11/413
代理机构		代理人
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