发明名称 | 检验盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备 | ||
摘要 | 一种用于检验盘记录和再现设备在进行认证情况下执行再初始化时是否正常地产生或更新缺陷管理区(DMA)信息的方法及采用该方法的测试设备。该方法包括步骤:采用测试基准信息和具有物理缺陷的测试盘,在记录和再现设备中在进行认证的情况下进行再初始化,之后从DMA信息产生测试信息;和将从测试基准信息和物理缺陷中得到的基准信息与测试信息相比较,并提供对测试信息的检验结果。因此,能够容易地判定盘记录和再现设备是否正常地执行了DMA产生或更新功能。 | ||
申请公布号 | CN1323033A | 申请公布日期 | 2001.11.21 |
申请号 | CN01112396.6 | 申请日期 | 2001.04.06 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 高祯完;郑铉权 |
分类号 | G11B20/18;G11B20/12;G11B7/00 | 主分类号 | G11B20/18 |
代理机构 | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人 | 马莹 |
主权项 | 1、一种用于检验在具有缺陷管理区域(DMA)信息的盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备的产生或更新DMA信息功能的方法,该方法包括下列步骤:采用测试基准信息和具有物理缺陷的测试盘,在记录和再现设备中在进行认证的情况下进行再初始化,并在再初始化之后从所产生的DMA信息中产生测试信息;和将从测试基准信息和物理缺陷中得到的基准信息与测试信息相比较,并提供对测试信息的检验结果。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |