发明名称 检验光盘的缺陷管理区信息的方法和执行该方法的装置
摘要 一种检验可记录和可再现光盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法和执行该方法的测试装置。该方法包括:选择多个测试模式中的一种和按照所选模式设定测试基准;按照所选模式从由该装置产生或更新的DMA信息产生测试信息;和使用测试基准检验测试信息。因此可采用不同测试盘容易地检验记录和再现装置是否适当解释和处理缺陷信息,该测试盘是根据DMA信息检验测试模式,使用带有与盘上的实际缺陷无关的预定缺陷信息的镜像文件制造的。
申请公布号 CN1323035A 申请公布日期 2001.11.21
申请号 CN01112400.8 申请日期 2001.04.06
申请人 三星电子株式会社 发明人 高祯完;郑铉权
分类号 G11B20/18;G11B20/12;G11B7/00 主分类号 G11B20/18
代理机构 柳沈知识产权律师事务所 代理人 吕晓章
主权项 1、一种检验在将信息记录到具有DMA信息的光盘上或从该光盘上再现信息的记录和再现装置中、缺陷管理区(DMA)信息是否被适当产生或更新的方法,该方法包括:选择用于检验DMA信息的多个测试模式中的一种和按照选择的检验测试模式设定测试基准;按照选择的检验测试模式,从由记录和再现装置产生和更新的DMA信息产生测试信息;和使用在选择检验测试模式中的测试基准,执行检验测试信息的测试。
地址 韩国京畿道