发明名称 METHOD FOR FUNCTIONALLY TESTING MEMORY CELLS OF AN INTEGRATED SEMICONDUCTOR MEMORY
摘要
申请公布号 KR20010101988(A) 申请公布日期 2001.11.15
申请号 KR1020017009842 申请日期 2001.08.03
申请人 发明人
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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