| 主权项 |
1.一种量测光学装置偏极相关损耗之装置,其在测试情况下使用不规则偏极光线讯号量测,该装置产生测试输入讯号,该讯号在测试情况下导引至光学装置,该装置包含:第一被动性光学元件,其连接至光源,其中第一被动性光学元件具有第一偏极相关损耗;以及第二被动性光学元件,其连接至第一被动性光学元件以及具有第二偏极相关损耗而实质上等于第二偏极相关损耗,该第二被动性光学元件放置于相对于第一被动光学元件使得第二偏极相关损耗消除第一偏极相关损耗以及输出测试输入讯号,其具有偏极相关损耗等于第一最小値。2.依据申请专利范围第1项之装置,其中光源更进一步包含:发射出狭窄频带光线波长讯号之雷射光源;以及偏极控制器,其连接至雷射光源以及第一被动性光学元件,其中偏极控制器不规则地将狭窄频带光线讯号偏极化以产生光线讯号。3.依据申请专利范围第1项之装置,其中光源更进一步包含:宽广频带光源以发射出光线讯号;狭窄频带滤波器,其连接至宽广频带光源以过滤宽广频带光线讯号因而产生狭窄频带之光线讯号;以及偏极控制器,其连接至狭窄频带滤波器以及第一被动性光学元件,其中偏极控制器不规则地将狭窄频带光线讯号偏极化因而产生光线讯号。4.依据申请专利范围第1项之装置,其中更进一步包含:量测元件,其在测试情况下连接至光学装置之输出在测试偏极相关损耗情况下量测装置输出讯号以及计算光学装置;以及标定组件,其连接至第二被动性光学元件以标定向前传送模之量测,该标定装置转动第二被动性光学元件以回应标定讯号因而促使第二偏极相关损耗实质地消除第一偏极相关损耗。5.依据申请专利范围第1项之装置,其量测装置中更进一步包含:光线感测器,其连接至测试情况下之装置;以及计算装置,其连接至光线感测器,该计算装置包含软体程式,其具有量测副程式以及标定副程式。6.依据申请专利范围第1项之装置,其中第一被动性光学元件以及第二被动性光学元件为耦合器。7.依据申请专利范围第1项之装置,其中第一最小値等于第一偏极相关损耗减去第二偏极相关损耗之绝对値。8.依据申请专利范围第7项之装置,其中第一最小値小于0.001dB。9.依据申请专利范围第1项之装置,其中输入讯号被光学装置反射进入第二被动性光学元件因而产生测试输出讯号,其分离为第二被动性光学元件之输出。10.依据申请专利范围第9项之装置,其中更进一步包含:第三被动性光学元件,其连接至第二被动性光学元件之输出以及具有第三偏极相关损耗,其实质上等于第二偏极相关损耗,该第三被动性光学元件放置于相对于第二被动性光学元件使得第三偏极相关损耗消除第二偏极相关损耗因而促使测试输出讯号具有偏极相关损耗等于第二最小値。11.依据申请专利范围第10项之装置,其中第二最小値等于第二偏极相关损耗减去第三偏极相关损耗之绝对値。12.依据申请专利范围第11项之装置,其中第二最小値小于0.001dB。13.依据申请专利范围第10项之装置,其中第一被动性光学元件,第二被动性光学元件,以及第三被动性光学元件为耦合器。14.依据申请专利范围第10项之装置,其中更进一步包含:量测元件,其连接至第三被动性光学元件以在测试偏极相关损耗情况下量测测试输出讯号以及计算光学装置;及标定组件,其连接至第二被动性光学元件以及第三被动性光学元件以标定向前传送模以及向后反射模之量测。15.依据申请专利范围第14项之装置,其中量测装置更进一步包含:光线感测定,其连接至测试情况下之装置;以及计算装置,其连接至光线感测器,该计算装置包含软体程式,其具有量测程序以及标定程序。16.依据申请专利范围第15项之装置,其中量测装置计算测试输出讯号偏极相关损耗藉由解PDL=log10[Poutmax/Pin]-log10[Poutmin/Pin]其中PDL为测试讯号偏极相关损耗以dB为单位,Poutmax为侧试输出讯号最大功率,Poutmin为测试输出讯号之最小功率,以及Pin为测试输入讯号之功率。17.依据申请专利范围第16项之装置,其中光学装置测试情况下偏极相关损耗等于输出讯号偏极相关损耗减去第二最小値。18.依据申请专利范围第14项之装置,其中标定组件更进一步包含:可旋转载台组件以转动第二被动性光学元件于向前传送标定模中以及第三被动性光学元件于向后反射标定模中;及马达组件以促动该可旋转载台以回应量测元件之讯号,其中该可旋转载台,马达组件,以及量测元件在向前传送标定模以及向后反射标定模过程中形成控制回路。19.依据申请专利范围第18项之装置,其中量测元件驱动马达以促使第二被动性光学元件旋转以回应第一被动性光学元件持续到标定讯号偏极相关损耗等于第一最小値。20.依据申请专利范围第19项之装置,其中第一最小値等于第一偏极相关损耗减去第二偏极相关损耗之绝对値。21.依据申请专利范围第18项之装置,其中量测元件装置驱动马达以促使第二被动性光学元件旋转以回应第二被动性光学元件持续到标定讯号偏极相关损耗等于第二最小値。22.依据申请专利范围第18项之装置,其中量测元件光学地连接至第二被动性光学元件于向前传送标定模中以及光学地连接至第三被动性光学元件于向后反射标定模中以量测标定讯号之讯号功率以及依据标定讯号功率产生误差讯号,其中量测装置元件驱动马达组件持续到误差讯号等于向前传送标定模中之第一最小値以及向后反射标定模中之第二最小値。23.一种量测光学装置偏极相关损耗之方法,其中装置包含光源以发射出不规则偏极光线讯号,第一被动性光学元件,其连接至光源,其中第一被动性光学元件具有第一偏极相关损耗,该量测方法包含下列步骤:提供第二被动性光学元件,其具有第二偏极相关损耗实质上等于第一偏极相关损耗以及连接至第一被动性光学元件于一个相对位置处使得第二偏极相关损耗消除第一偏极相关损耗;导引光线讯号进入第一被动性光学元件使得第二被动性光学元件产生测试输入讯号,其中测试输入讯号之偏极相关损耗实质上等于第一最小値;导引测试输入讯号进入光学装置;以及量测光学装置之输出讯号因而决定出偏极相关损耗。24.依据申请专利范围第23项之方法,其中第一最小値等于第一偏极相关损耗减去第二偏极相关损耗之绝对値。25.依据申请专利范围第23项之方法,其中更进一步包含下列步骤:提供第三被动性光学元件,其具有第三偏极相关损耗实质上等于第二偏极相关损耗以及连接至第二被动性光学元件于一旋转位置使得第三偏极相关损耗实质上消除第二偏极相关损耗;导引测试输出讯号进入第二被动性光学元件,其中测试输出讯号在测试时藉由反射测试输入讯号离开光学装置而产生;在第三被动性光学元件之输出处量测测试输出讯号因而产生测试输出量测;以及使用输出量测计算偏极相关损耗。26.一种量测光学装置偏极相关损耗之方法,其中装置包含光源以发射出不规则偏极光线讯号以及第一被动性光学元件具有第一偏极相关损耗,该方法标定包含下列步骤:提供第二被动性光学元件,其第二偏极相关损耗实质上等于第一偏极相关损耗以及连接至第一被动性光学元件;导引光线讯号进入第一被动性光学元件以产生标定讯号,其离开第二被动性光学元件;以及旋转第二被动性光学元件持续到第二偏极相关损耗实质上消除第一偏极相关损耗以及第一棵定讯号之第一标定偏极相关损耗相关损耗等于第一最小値。27.依据申请专利范围第26项之方法,其中第一最小値等于第一偏极相关损耗减去第二偏极相关损耗之绝对値。28.依据申请专利范围第26项之方法,其中更进一步包含下列步骤:提供第三被动性光学元件,其具有第三偏极相关损耗实质上等于第二偏极相关损耗以及连接至第二被动性光学元件;导引光线讯号进入第二被动性光学元件使得第二标定讯号离开第三被动性光学元件;以及旋转第三被动性光学元件持续到第三偏极相关损耗实质上消除第二偏极相关损耗以及第二标定讯号之第二标定偏极相关损耗等于第二最小値。29.依据申请专利范围第28项之方法,其中第二最小値等于第二偏极相关损耗减去第三偏极相关损耗之绝对値。图式简单说明:第一图为本发明第一实施例之方块图,其量测向前传送模之PDL。第二图为标定组件之方块图,其使用来标定本发明向前传送模量测。第三图为本发明另外一个实施例之方块图,其量测向后反射模之PDL。第四图为标定组件之方块图,其使用来标定本发明向后反射模量测。 |
