测试存储器的方法

摘要

通过连接所述阵列与一对用于生成行激励序列的激励生成器装置和用于求值所述激励产生的响应序列的响应求值器装置以测试存储器阵列。在非测试条件下控制所述装置对为透明模式,在测试条件下控制所述装置对分别为激励生成模式和响应求值模式,并且在以后的修复条件下允许基于行－和/或列修复干预分别到达可修复的行和列的预定最大值。特别是,所述测试条件为每个列在芯片上计数错误个数,当到达超过最大可修复行数的错误数后发出当前列“必须被修复”的信号。相对于所述发出的信号,为相关的基于行的修复能力保持依赖于发信号列以外的行的一个或多个进一步的错误。在所述测试条件以后通过输出所述信号和所述进一步错误的表示传送至所述修复条件。

主权项

1．一种测试存储器阵列的方法，通过将所述阵列连接至一对用于生成行激励序列的激励生成器装置和用于求值所述激励产生的响应序列的响应求值器装置，在非测试条件下控制所述装置对为透明模式，在测试条件下控制所述装置对分别为激励生成模式和响应求值模式，并且在以后的修复条件下允许基于行-和/或列修复干预分别到达可修复的行和列的预定最大值，其特征在于所述测试条件为每个列在芯片上计数错误个数，当到达超过最大可修复行数的错误数后发出当前列“必须被修复”的信号，相对于所述发出的信号，为相关的基于行的修复能力保持依赖于发信号列以外的行的一个或多个进一步的错误，并且在所述测试条件以后通过输出所述信号和所述进一步错误的表示传送至所述修复条件。