发明名称 TWO-DIMENSIONAL SCATTER PLOT TECHNIQUE FOR DEFECT INSPECTION
摘要 <p>L'invention concerne un procédé et un appareil associé, destinés à relier une image test à une image de référence dans un système de traitement image automatisé. Les images test et de référence sont alignées. Un diagramme de dispersion bidimensionnel est alors établi en reportant le niveau de gris d'un pixel image test à l'encontre du niveau de gris d'un pixel image de référence correspondante pour chaque emplacement de pixels alignés.</p>
申请公布号 WO2001080182(A1) 申请公布日期 2001.10.25
申请号 US2000021491 申请日期 2000.08.02
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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