Verfahren zum Prüfen der Funktionsfähigkeit einer Leiterplatte mit programmiertem Mikrocomputer einer elektrischen Steuer-oder Regeleinrichtung

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen der Funktionsfähigkeit einer Leiterplatte einer elektrischen Steuer- oder Regeleinrichtung mit einem programmierten Mikrocomputer, dessen Eingänge von Sensoren mit Eingangs-Signalen beaufschlagt werden und an dessen Ausgängen in Abhängigkeit von den anliegenden Eingangs-Signalen und der im Mikrocomputer zugeordneten Funktion Ausgangs-Signale für Aktoren abgegeben werden. Die Überprüfung der Funktionsfähigkeit der Leiterplatte am Einsatzort wird durch einen zusätzlichen Schaltkreis auf der Leiterplatte ermöglicht, der in einfachen Prüfschritten mit dem Mikrocomputer die Zuordnung der Eingangs-Signale zu den Ausgangs-Signalen gemäß dem vorgegebenen Programm überprüft.