Verfahren zum Prüfen der Funktionsfähigkeit einer Leiterplatte mit programmiertem Mikrocomputer einer elektrischen Steuer-oder Regeleinrichtung

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen der Funktionsfähigkeit einer Leiterplatte einer Steuer- oder Regeleinrichtung mit einem programmierten Mikrocomputer, dessen Eingänge von Sensoren mit Eingangs-Signalen beaufschlagt werden und an dessen Ausgängen in Abhängigkeit von den anliegenden Eingangs-Signalen und der im Mikrocomputer zugeordneten Funktion Ausgangs-Signale abgegeben werden. Die Überprüfung der Funktionsfähigkeit der Leiterplatte mit Microcomputer am Einsatzort mit Hilfe eines einfachen Prüfgerätes wird dadurch erleichtert und ermöglicht, dass die Intelligenz des Mikrocomputers in den Prüfungsablauf einbezogen wird. Dadurch wird im externen Prüfgerät nur ein einfacher Schaltkreis erforderlich und an der Leiterplatte sind zusätzlich nur Anschlussmöglichkeiten für das Prüfgerät vorzusehen.