发明名称 |
Method for operating an integrated memory |
摘要 |
<p>Es wird ein Verfahren zum Betrieb eines integrierten Speichers beschrieben, der Speicherzellen (MC0; MC255) mit jeweils einem Auswahltransistor (T0, T255) und einem Speicherkondensator (C0, C255) mit ferroelektrischem Speichereffekt aufweist. Der Speicher enthält eine Plattenleitung (PL), die über eine Reihenschaltung des Auswahltransistors (T0) und des Speicherkondensators (C0) jeweiliger Speicherzellen (MC0) mit einer der Spaltenleitungen (BLt) verbunden ist. Ein Speicherzugriff wird nach dem sogenannten "Pulsed Plate Concept" durchgeführt. Der zeitliche Ablauf wird dabei so gesteuert, daß in einem Zugriffszyklus der Speicherkondensator (C0) der auszuwählenden Speicherzelle (MC0) jeweils um den gleichen Betrag aufgeladen und entladen wird. So wird eine durch Source-Drain-Leckströme von nicht aktivierten Auswahltransistoren verursachte Abschwächung oder Zerstörung der in den Speicherzellen gespeicherten Information vermieden. <IMAGE></p> |
申请公布号 |
EP1148512(A2) |
申请公布日期 |
2001.10.24 |
申请号 |
EP20010105035 |
申请日期 |
2001.03.01 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
ESTERL, ROBERT;HOENIGSCHMID, HEINZ;KANDOLF, HELMUT;ROEHR, THOMAS, DR. |
分类号 |
G11C11/22;(IPC1-7):G11C11/22 |
主分类号 |
G11C11/22 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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