| 摘要 |
<p>L'invention concerne un étalon servant à analyser la longueur d'onde d'une source lumineuse et comportant un étalon uniquement dans une partie d'un substrat dans laquelle l'étalon est intégré. Etant donné que cet étalon est utilisé pour surveiller ou commander la longueur d'onde, il peut être placé dans un faisceau d'application. Une partie du faisceau d'application est divisée en au moins deux faisceaux, un premier faisceau étant dirigé sur l'étalon afin de surveiller la longueur d'onde et l'autre faisceau servant uniquement de faisceau de référence ou traversant un autre étalon ayant une longueur de trajet optique différente de celle de l'étalon du premier faisceau, ce qui lui permet de surveiller également la longueur d'onde. Quant au moniteur, il peut comporter au moins deux photodétecteurs : un pour chacun des faisceaux obtenus à partir du faisceau d'entrée. Un des substrats ou tous les substrats contenant les éléments pour le moniteur peuvent être créés au niveau d'une plaquette et coupés en cube et/ou soudés à d'autres plaquettes contenant d'autres éléments et coupés en cube.</p> |
