发明名称 Method of etching a semiconductor device
摘要 <p>본 발명은 반도체 소자의 식각 방법에 관한 것으로, 정전기력에 의해 웨이퍼를 처킹하고 플라즈마에 의해 웨이퍼를 식각하는 반도체 소자의 식각 방법에 있어서, 챔버를 안정화시킨 후 소정 압력 상태에서 소오스 파워만을 인가하여 웨이퍼 처킹을 체크한 후 바이어스 파워를 인가하여 식각 공정을 실시하거나, 압력을 조절하여 유지한 상태에서 소오스 파워만을 인가하여 웨이퍼 처킹을 체크한 후 바이어스 파워를 인가하여 식각 공정을 실시함으로써 웨이퍼의 손실을 미연에 방지할 수 있는 반도체 소자의 식각 방법이 제시된다.</p>
申请公布号 KR100309130(B1) 申请公布日期 2001.10.17
申请号 KR19990060569 申请日期 1999.12.22
申请人 null, null 发明人 백계현;신강섭
分类号 H01L21/306 主分类号 H01L21/306
代理机构 代理人
主权项
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