| 发明名称 |
A Method and system for testing microprocessor-based boards in a manufacturing environment |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
IES20000160(A2) |
申请公布日期 |
2001.10.17 |
| 申请号 |
IES20000160 |
申请日期 |
2000.02.29 |
| 申请人 |
INTERNATIONAL TEST TECHNOLOGIES |
发明人 |
PATRICK NEE;WILLIAM FENTON;CIARAN HARVEY;MALCOLM SIMMONDS |
| 分类号 |
G06F11/26;(IPC1-7):G01R31/28;G01R1/067 |
主分类号 |
G06F11/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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