| 主权项 |
1.一种用来检测传输线中桥接分歧以及其它型式障碍出现的方法,包含:将预定频率的测试信号传输至传输线的传输端;在传输线的接收端上测量其测试信号的振幅;基于所测量到的振幅来计算传输线的频率响应;在传输线的频率响应中检测频域记号的出现;以及基于所辨识的频域记号来辨识桥接分歧或另一种型式障碍的出现。2.如申请专利范围第1项之方法,其中的传输和接收端乃是传输线相对的两端。3.如申请专利范围第1项之方法,进一步地包含:显示其频率响应如同一种图表。4.如申请专利范围第1项之方法,进一步地包含:执行时域反射仪(TDR)的测试;以及基于来自TDR测试的结果来判断所辨识的障碍之位置。5.如申请专利范围第1项之方法,其中与桥接分歧有关的频域记号包含在频率响应中一组一个或多个的衰减陡降,其中的每一个衰减陡降皆是频率响应中局部的最小値。6.如申请专利范围第5项之方法,其中的衰减陡降乃是谐波相关的。7.如申请专利范围第6项之方法,进一步地包含:基于谐波相关的衰减陡降组中第一衰减陡降之频率来计算桥接分歧的长度。8.如申请专利范围第7项之方法,其中执行计算所根据的方程式为vp.c=f.其中的vp为测试信号在传输线中的传播速度。9.如申请专利范围第8项之方法,其中对开路的终端而言,桥接分歧的长度(l)评估为:其中的fl为谐波相关的衰减陡降组中之第一衰减陡降频率。10.如申请专利范围第8项之方法,其中对短路的终端而言,桥接分歧的长度(l)评估为:其中的fl为谐波相关的衰减陡降组中第一衰减陡降之频率。11.如申请专利范围第8项之方法,其中的vp乃是从实验的量测所得到的。12.如申请专利范围第8项之方法,其中将vp设为在0.4至0.8的范围内之缺设値。13.如申请专利范围第12项之方法,其中的vp设为0.64左右的缺设値。14.一种用来检测传输线中桥接分歧的出现之方法,包含:将预定频率的测试信号传输至传输线的传输端;在传输线的接收端上测量其测试信号的振幅,其中传输和接收端乃是传输线相对的两端;基于所测量到的振幅来计算传输线的频率响应;检测在传输线的频率响应中频域记号的出现,其中的频域记号包含在频率响应中一组一个或多个谐波相关的衰减陡降,而其中的每一个衰减陡降皆是频率响应中局部的最小値;基于所辨识的频域记号来辨识桥接分歧的出现;执行时域反射仪(TDR)的测试;以及基于来自TDR测试的结果来判断所辨识的障碍之位置。15.一种用来检测传输线中桥接分歧以及其它型式障碍出现的电脑程式产品,其包含一电子储存单元,其编码以:编码的指令,组构以指示预定频率的测试信号之传输至传输线的传输端;编码的指令,组构以检测在传输线接收端的测试信号;编码的指令,组构以计算所检测到的测试信号之振幅;编码的指令,组构以基于所计算的振幅,藉以计算传输线的频率响应;编码的指令,组构以接收表示在传输线的频率响应中所检测到的频域记号之信号;以及编码的指令,组构以基于表示所辨识的频域记号之信号,藉以辨识传输线中桥接分歧或其它型式障碍的出现。16.如申请专利范围第15项之产品,进一步地包含:编码的指令,组构以执行时域反射仪(TDR)的测试;以及编码的指令,组构以基于来自TDR测试的结果,藉以判断所辨识的障碍之位置。17.如申请专利范围第15项之产品,其中的频域记号包含在频率响应中一组一个或多个的衰减陡降,而其中的每一个衰减陡降皆是频率响应中的局部最小値。18.如申请专利范围第17项之产品,进一步地包含:编码的指令,组构以基于一组一个或多个的衰减陡降中的第一衰减陡降之频率,藉以计算桥接分歧的长度。19.一种用来检测传输线中桥接分歧以及其它型式障碍出现的测试机组,包含:至少一个的信号输入埠;测试电路,连接到至少一个的信号输入埠,该测试电路系组构藉以接收来自信号输入埠的信号,并且产生表示所接收到的信号振幅之资料;一处理器,连接到测试电路,该处理器系组构以接收表示所接收到的信号振幅之资料,并产生频率响应;一显示器,操作性连接到处理器,该显示器系组构以接收并且显示频率响应,其中的频率响应乃是用来辨识与传输线中可检测的障碍型式有关的频域记号之出现。20.如申请专利范围第19项之测试机组,其中将其频率响应显示为一种图表。21.如申请专利范围第19项之测试机组,其中的频域记号包含在频率响应中一组一个或多个的衰减陡降,而其中的每一个衰减陡降皆是频率响应中局部的最小値。22.如申请专利范围第21项之测试机组,进一步地包含:一使用者输入装置,连接到处理器,该使用者输入装置系组构以接收指示频率响应中衰减陡降的频率之信号,其中的处理器基于衰减陡降的频率,进一步地组构来计算桥接分歧的长度。图式简单说明:第一图A显示用来辨识传输线中桥接分歧出现的测试机组图;第一图B显示沿着桥接分歧不同位置上的测试信号图;第一图C显示具有桥接分歧的传输线之频率响应图;第二图A显示数位通信网路简化的方块图;第二图B显示电信传输测试机组的一个实施例;第三图A显示测试机组实施例的方块图;第三图B-第三图D分别显示DMM测试电路、TDR测试电路、以及传输线损坏测试电路的实施例之方块图;第四图A显示数据机模组的实施例之方块图;第四图B显示用来辨识连接到测试机组的特定数据模组之实施例图示;第四图C显示配合适当软体与特定数据机模组的另一个实施例之图示;第五图显示一个清单谱的实施例;第六图A显示用于DMM量测的测试结合;第六图B显示以"游标"控制的TDR测试结果之显示图;第六图C显示以"标记"控制的TDR测试结果之显示图;第七图显示用于传输线损坏测试的测试组合;第八图A显示用于传输线损坏测试的清单之实施例;第八图B显示列出测试频率组的清单,用于插入损失的量测;第八图C显示插入损失测试的结果图;第八图D显示插入损失测试结果的数文数字号之表示;第八图E显示信号对杂讯测试结果的数文数字号之表示;第八图F显示背景杂讯测试结果的数文数字号之表示;第九图A显示用于两线对的双HTU-C和HTU-R模拟之测试组合;第九图B显示实行中的HTU-C和HTU-R功能之测试组合;第九图C显示互补于第九图B的测试组合;第九图D显示非使用中的HTU-C和HTU-R功能之测试组合;第九图E显示在一个HDSL跨距上用于E1和T1测试的测试组合;第九图F显示用于同时存在的ATU-和ATU-R模拟之测试组合;第九图G显示用来测试ATU-C功能的测试组合;以及第九图H显示用来测试ATU-R功能的测试组合。 |
