发明名称 | 电磁噪声抑制器、使用该抑制器的半导体器件及其制造方法 | ||
摘要 | 在半导体裸芯片(57)的前表面上形成集成电路,在半导体裸芯片的背侧表面上形成磁损耗薄膜55。 | ||
申请公布号 | CN1316777A | 申请公布日期 | 2001.10.10 |
申请号 | CN01119032.9 | 申请日期 | 2001.04.04 |
申请人 | 株式会社东金 | 发明人 | 吉田荣吉;小野裕司;栗仓由夫;根本道夫;山中英二;山口正洋;岛田宽 |
分类号 | H01L23/552;H01L23/58;H01F41/14;H01F1/047;H01L27/04;H01L21/00 | 主分类号 | H01L23/552 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 张志醒 |
主权项 | 1.一种半导体裸芯片,其前表面上形成有集成电路,其中,磁损耗薄膜形成在所述半导体裸芯片的背表面上。 | ||
地址 | 日本宫城县 |