| 发明名称 | 痕量级气体分析装置和方法 | ||
| 摘要 | 一种痕量级气体分析装置，具有收集大气中气体组分的扩散洗涤器11，和将空气导入扩散洗涤器11的取样管10，该装置设置利用清洁液流22清洁扩散洗涤器11和取样管10的清洁装置。 | ||
| 申请公布号 | CN1316645A | 申请公布日期 | 2001.10.10 |
| 申请号 | CN01102340.6 | 申请日期 | 2001.02.02 |
| 申请人 | 日本电气株式会社 | 发明人 | 佐藤右一 |
| 分类号 | G01N30/04;G01N30/02 | 主分类号 | G01N30/04 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 刘晓峰 |
| 主权项 | 1.一种痕量级气体分析装置，包含：一个扩散洗涤器，用于收集大气气体组分；一个取样管，用于将所收集的大气气体组分导入所述的扩散洗涤器；清洁装置，用于利用清洁液流清洁所述的扩散洗涤器和所述的取样管。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||