发明名称 DEVICE FOR MEASURING LAYER THICKNESSES
摘要 <p>Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Messung der Dicke eines Belags auf einer Oberfläche, insbesondere eines Belags aus Wasser oder Eis. Die Vorrichtung zeichnet sich aus durch eine Einrichtung zum Senden von Radarsignalen durch die zu messender Schicht, eine Einrichtung zum Empfangen der Radarsignale, die von der der Oberfläche abgewandten Grenzfläche des Belags reflektiert worden sind, und eine Einrichtung zum Ermitteln der Dicke des Belags aus einem Phasenvergleich der von der Einrichtung zum Senden gesendeten Radarsignale und der von der Einrichtung zum Empfangen empfangenen Radarsignale. Ausserdem betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zur Messung der Dicke eines Belags auf einer Oberfläche, insbesondere eines Belags aus Wasser oder Eis, mit einem in Richtung des zu messenden Belags offenen dielektrischen Resonator, einer an den dielektrischen Resonator gekoppelten Auswerteeinrichtung zur Speisung des dielektrischen Resonators mit einer variablen Frequenz, einer Detektionseinrichtung zum Ermitteln der Amplitude des dielektrischen Resonators in Abhängigkeit von der eingespeisten Frequenz, und einer Einrichtung zum Ermitteln der Dicke des Belags aus der ermittelten Amplitude des dielektrischen Resonators und der eingespeisten Frequenz. Weiterhin betrifft die Erfindung Steuereinrichtung für eine Abtauvorrichtung mit einer derartigen Vorrichtung und einer Einrichtung, die ein Signal an die Abtaueinrichtung zur Inbetriebnahme derselben abgibt, wenn durch die Vorrichtung ermittelt worden ist, dass es sich bei dem Belag um Eis handelt. Außerdem betrifft die Erfindung die Verwendung einer der zuvor genannten Vorrichtungen zur Bestimmung der Niederschlagshöhe von Wasser, Eis und/oder Schnee auf einem Fahrbahnbelag oder zur Messung der Dicke von Eisschichten auf Windkrafträder oder zur Messung der Dicke von Eisschichten auf Tragflächen von Fluggeräten.</p>
申请公布号 WO2001073472(A2) 申请公布日期 2001.10.04
申请号 EP2001003676 申请日期 2001.03.30
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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