发明名称 |
Messvorrichtung für Oberflächenstrukturen, Messverfahren für Oberflächenstrukturen und Messvorrichtung für den Tasterradius |
摘要 |
En Taster wird entlang der Oberfläche eines Werkstücks bewegt und die Oberflächenstruktur des Werkstücks wird auf der Basis der Verschiebung des Tasters in Z-Richtung gemessen. Eine kugelförmige Prüflehre mit bekanntem Radius wird mit dem Taster im voraus gemessen und es werden Radiuswerte r der Kugel der Spitze des Tasters entsprechend dem Winkel berechnet, indem der Radius R der Prüflehre von den gemessenen Werten subtrahiert wird. Die tatsächliche Kontur des Werkstücks wird unter Verwendung der Radiuswerte r als Korrekturdaten entsprechend dem Winkel und Subtrahieren der Korrekturwerte entsprechend dem Winkel von den gemessenen Daten berechnet, die durch Bewegung entlang der Oberfläche des Werkstücks erhalten werden.
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申请公布号 |
DE10115288(A1) |
申请公布日期 |
2001.10.04 |
申请号 |
DE20011015288 |
申请日期 |
2001.03.28 |
申请人 |
MITUTOYO CORP., KAWASAKI |
发明人 |
TAKEMURA, ISAMU |
分类号 |
G01B21/20;B23Q17/20;G01B5/016;G01B5/28;G01B21/30;(IPC1-7):G01B21/30;G01B21/04;G12B21/20 |
主分类号 |
G01B21/20 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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