| 发明名称 |
Menetelmä kuvantavaan mittaukseen, kuvantava mittalaite ja mitatun informaation käyttö prosessin valvonnassa |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
FI20000737(A) |
申请公布日期 |
2001.10.01 |
| 申请号 |
FI20000000737 |
申请日期 |
2000.03.31 |
| 申请人 |
OSEIR OY, |
发明人 |
HAEMAELAEINEN,ESA;VATTULAINEN,JUHA |
| 分类号 |
G01B11/10;G01J3/51;G01J5/48;G01J5/60;(IPC1-7):G01J5/60;G01J5/00;G01N21/25 |
主分类号 |
G01B11/10 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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