首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
APPARATUS AND METHOD FOR SECONDARY ELECTRON EMISSION MICROSCOPE
摘要
申请公布号
EP1029340(A4)
申请公布日期
2001.09.26
申请号
EP19980957381
申请日期
1998.10.26
申请人
KLA-TENCOR CORPORATION
发明人
ADLER, DAVID, A.;WALKER, DAVID, J.;BABIAN, FRED;WOLFE, TRAVIS
分类号
G01N23/225;G01Q30/02;H01J37/244;H01J37/28;H01J37/285;H01L21/66;(IPC1-7):H01J37/26
主分类号
G01N23/225
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
一种移动多媒体广播控制信息与媒体信息区分传送的方法
含三苯胺基团的有机染料及制备和应用
一种业务调度的方法和装置
一种非氧化物复合低碳镁碳砖
微波接入全球互通网络中释放资源的方法及其系统
一种显示器
湿浸式光刻工艺的控制方法及其操作系统
电子传感式电压力锅
以玉米皮水解液为原料制备饲料酵母的方法
多通道液态燃料部分氧化制合成气烧嘴及其应用
光刻装置的传感器
球硅复合建筑保温材料及其制造方法
司机醉酒自动禁驾系统电路
液压导线压接机的换向阀
一种球形纳米银粉的制备方法
高精度六轴激光测量装置及测量方法
一种用于量值传递的标准超声源系统及其应用方法
用于对目标系统进行授权远程访问的装置、系统和方法
铁系耐磨滑动材料及滑动构件
2-亚丙基-19-去甲维生素D化合物