| 发明名称 | 双读头光学尺装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种双读头光学尺装置,主要包含线性滑轨、导螺杆、以及枢接于导螺杆的马达、轴承座的测量机台,在该测量机台设有两个及两个以上的运动台面,运动台面设有一呈跨置的单支光学尺,而在该光学尺上设有两组读头以及在该运动台面的相对侧设有单支的绝对式光学尺及两组读头。提升机台的运转功能,并提高机台的精度及功能的控制。 | ||
| 申请公布号 | CN2450631Y | 申请公布日期 | 2001.09.26 |
| 申请号 | CN00263122.9 | 申请日期 | 2000.11.28 |
| 申请人 | 联星科技股份有限公司 | 发明人 | 董文山 |
| 分类号 | G01B11/04;G01B11/25 | 主分类号 | G01B11/04 |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 曹广生 |
| 主权项 | 1、一种双读头光学尺装置，主要包含线性滑轨、导螺杆、以及枢接于导螺杆的马达、轴承座的测量机台，在该测量机台设有两个及两个以上的运动台面，其特征在于：运动台面设有一呈跨置的单支光学尺，而在该光学尺上设有两组读头；以及在该运动台面的相对侧设有单支的绝对式光学尺及两组读头。 | ||
| 地址 | 台湾省新竹市 | ||