发明名称 | 电化学元件劣化、剩余容量检测法及充电器和放电控制器 | ||
摘要 | 本发明提供一种备有电极及离子传导体的电化学元件的劣化检测方法,检测电化学元件的电化学特性,将测得的值与该元件的标准电化学特性比较并推定该元件的劣化程度。根据检测到的劣化程度把握元件的容量,并根据该容量和元件的输出推定元件的剩余容量。由此,能高精度检测二次电池等电化学元件的劣化程度及剩余容量。 | ||
申请公布号 | CN1314012A | 申请公布日期 | 2001.09.19 |
申请号 | CN00801085.4 | 申请日期 | 2000.06.12 |
申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 宇贺治正弥;嘉山美穗;竹山健一 |
分类号 | H01M10/48 | 主分类号 | H01M10/48 |
代理机构 | 上海专利商标事务所 | 代理人 | 孙敬国 |
主权项 | 1.一种电化学元件的劣化检测方法,该电化学元件包含电极及离子传导体,所述方法检测所述电化学元件的电化学特性,将测得的表示电化学特性的检测值与表示所述电化学元件标准电化学特性的基准值进行比较,推定所述电化学元件的劣化程度。 | ||
地址 | 日本国大阪府门真市 |