发明名称 | 同步辐射X射线多层膜反射率计装置 | ||
摘要 | 一种同步辐射X射线多层膜反射率计装置,采用单块多层膜反射镜作为色散元件,装置主体由两台Bragg衍射仪构成统一体,单色器和随动摇臂构成第一个衍射仪,所述单色器与随动摇臂构成二倍角关系;样品和探测器构成第二衍射仪,所述样品与探测器也构成二倍角关系。使用单块多层膜反射镜使单色器系统大大简化,同时使得光源传输效率及光通量大大增加,由于整套机构处于同一个真空腔体中,使得结构更加紧凑,整个工程造价也大大降低。 | ||
申请公布号 | CN1313507A | 申请公布日期 | 2001.09.19 |
申请号 | CN00102966.5 | 申请日期 | 2000.03.10 |
申请人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明人 | 崔明启;薛松 |
分类号 | G01J3/12 | 主分类号 | G01J3/12 |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 朱进桂 |
主权项 | 1.一种同步辐射X射线多层膜反射率计装置,包括X射线光源、色散元件、狭缝、样品和探测器,其特征在于,该色散元件采用单块多层膜反射镜。 | ||
地址 | 100039北京市石景山区玉泉路19号(乙) |