发明名称 INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD
摘要
申请公布号 JP2001249161(A) 申请公布日期 2001.09.14
申请号 JP20010010262 申请日期 2001.01.18
申请人 STMICROELECTRONICS SRL 发明人 DALLAVALLE CARLO
分类号 G01R31/26;G01R31/28;G01R31/30;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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